蔡司Gemini系列場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，具有出色的探測(cè)效率，能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。無(wú)論是在高真空還是可變真空模式下，對(duì)任意樣品進(jìn)行成像時(shí)都具有更高的表面細(xì)節(jié)信息，，可獲取各類(lèi)樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像。為生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室、成像平臺(tái)、高校或研究機(jī)構(gòu)提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微技術(shù)與解決方案。

[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]

ü  出色的檢測(cè)效率

ü  優(yōu)異的低電壓分辨率和表面靈敏度

ü  智能的自動(dòng)功能，一鍵實(shí)現(xiàn)聚焦，像散，電子束對(duì)中的自動(dòng)調(diào)節(jié)

ü  智能的電子光學(xué)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)光闌優(yōu)化，提高低電壓下的分辨率

ü  倍數(shù)可達(dá)1X的大視野模式，可拍攝大樣品及導(dǎo)航至感興趣區(qū)域

ü  的無(wú)漏磁鏡筒，輕松應(yīng)對(duì)磁性材料表征

ü  對(duì)稱(chēng)的EDS接口設(shè)計(jì)，可滿足無(wú)陰影EDS圖像的采集豐富的拓展性能

[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]

ü  材料科學(xué)，如納米材料表征

ü  工業(yè)應(yīng)用，如失效分析，性能分析

ü  生命科學(xué)，如大體積細(xì)胞高通量成像

ü  電池領(lǐng)域，如老化分析、電極材料表征

ü  電子半導(dǎo)體領(lǐng)域，如半導(dǎo)體器件失效分析

磁性FeMn納米顆粒，圖中立方體的邊長(zhǎng)約25nm，1kV

分子篩上搭載納米銀顆粒，左圖為Inlens SE探測(cè)器成像，右圖為EsB探測(cè)器的成分襯度像，1.5kV

鋰電池隔膜在低溫 -160°下進(jìn)行成像

三枚硬幣可以在同一視野下進(jìn)行觀察

EsB探測(cè)器FinFET晶體管成像

STEM探測(cè)器小鼠大腦組織切片明場(chǎng)成像